电阻率及型号测试仪 硅半导体测试仪型号：JX2008 

产品说明 
JX2008 电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能
综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和
轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。  
 JX2008 电阻率及型号测试仪 产品特点 
1仪器采用 220V 交流电源供电。 
2  同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。 
3  拥有较高的电阻率测试分辨率， 小可到0.001欧姆.厘米。  
4  能精确的分辨电阻率在0.002欧姆.厘米以上的硅半导体材
料型号。 
5  **立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。 
6  适中的体积和便携性。 
7  简单的操作，快速的测试。 
8  低廉的价格，很高的性价比。 
1.具有电阻率及型号测试功能，适合分选型号，并能够测试并显示出电阻率的值。 
2.电阻率分档直观，P/N报警门限分设。 
3.预设样片厚度，自动修正，直读电阻率 
4.P/N分选精度强 
5.交流电AC220V供电 
6.主机尺寸：155×120×50mm 
6.电阻率:0.001-100欧姆厘米 
7.P/N型号:0.05欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米

 感谢您对我司产品的关注！
若要购买此站点上列出的任何产品，请确定产品订货号、品牌、型号或相关要求，之后拨打以下热线电话，我们将竭诚为您服务

•  咨询热线：13121899399