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半导体激光尘埃粒子计数器
半导体激光尘埃粒子计数器
产品型号:CLJ-D
产品编号:TC-019544
产品介绍 技术文档 相关产品 如何购买

半导体激光尘埃粒子计数器  型号:CLJ-D

  
该系列仪器的技术指标均满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求,整机功能采用美国微电脑控制处理技术及国际上SMT芯片贴片封装技术和半导体激光传感器技术及防噪声气泵,可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数,并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况,对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。该系列仪器性能设计**、质量稳定可靠

半导体激光尘埃粒子计数器  型号:CLJ-D

  
  该系列产品已被广泛应用于洁净室检测;过滤器现场检测、捡漏;可监测净工作台、生物安全柜,HVAC系统,计算机室、饮料包装环境,医疗器械生产环境,医院洁净手术室,汽车喷涂环境微电子、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门,是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范及电子生产企业的仪器。 半导体激光尘埃粒子计数器  型号:CLJ-D


主要技术参数及性能:

半导体激光尘埃粒子计数器  型号:CLJ-D


1.光源: 全半导体 激光光源
2.采样量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.检测范围: 100级~100万级 
4.允许被测试空气的含尘浓度≯10 万颗/2.83L
5.粒径通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0(μm)六档
6.显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m3所含颗粒数。
7.采样周期: 1~10 (min)
8.净时间: ≤15 (min)
9.校准:可追溯美国国家标准技术协会(NIST)
10.工作环境: 温度:10~35℃    相对温度: 20~75%RH
11.Z大功耗: 25W
12.测量温度和湿度的范围与精度:(选购)
(1)         温度:0~50℃±1℃
(2)         湿度:0~100%RH±5%
13.采样点数   2~7点设定
14.每点采样次数   2~9次设定
15.UCL报表:符合FS-209E、中国GMP的标准
16.工作时间:8 小时
17.电源: AC220V±10%    50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六档粒径尘埃浓度同时检测,依次数字显示或选粒径显示。
21.备注: 内置打印机、动判断净化等级、等动力采样头、采样架

半导体激光尘埃粒子计数器  型号:CLJ-D

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