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金属薄膜方块电阻测试仪
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金属薄膜方块电阻测试仪
产品型号：KDB-2B
产品编号：TC-020180
KDB-2B为四探针法测量金属薄膜的方块电阻，该方法操作简单，测量精确。
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产品介绍
技术文档
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如何购买
KDB-2B为四探针法测量金属薄膜的方块电阻，该方法操作简单，测量精确。
仪器特点如下：
1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。
数字电压表量程：0—19.999mV 灵敏度：1μV 输入阻抗：1000ΜΩ
基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度) ；
2、方块电阻测量范围：1×10-5～1.9Ω/□；
3、电流量程分两档：100mA和1000mA。
仪器特点如下：
1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。
数字电压表量程：0—19.999mV 灵敏度：1μV 输入阻抗：1000ΜΩ
基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度) ；
2、方块电阻测量范围：1×10-5～1.9Ω/□；
3、电流量程分两档：100mA和1000mA。
