产品分类
联系我们
当前位置:产品中心
>> 最近热销
薄膜热物性测试仪
 |
薄膜热物性测试仪
产品型号：HCX09A
产品编号：TC-020970
该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。
|
产品介绍
技术文档
相关产品
如何购买
薄膜热物性测试仪 型号：HCX09A
HCX09A薄膜热物性测试仪
该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器**用于研究薄膜材料热物性特性。
主要技术参数：
1．导热系数范围：0.05～20w/m·k
2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。
3．测量结果，准确度 ±3%
4．计量加热功率可调节±1%。
5. 试样尺寸要求：圆片(方片)直径（边长）不大于50mm
6.使用温度为：常温。
7.配有完整的测试系统及软件平台。
8.操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报 告输出。
HCX09A薄膜热物性测试仪
该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器**用于研究薄膜材料热物性特性。
主要技术参数：
1．导热系数范围：0.05～20w/m·k
2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。
3．测量结果，准确度 ±3%
4．计量加热功率可调节±1%。
5. 试样尺寸要求：圆片(方片)直径（边长）不大于50mm
6.使用温度为：常温。
7.配有完整的测试系统及软件平台。
8.操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报 告输出。
