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半导体热电特性综合实验仪 半导体热电特性综合实验器
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半导体热电特性综合实验仪 半导体热电特性综合实验器
产品型号： TRY-YJ-SB-1
产品编号：TC-006506
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产品介绍
技术文档
相关产品
如何购买
半导体热电特性综合实验仪 半导体热电特性综合实验器 型号： TRY-YJ-SB-1
1. 仪器主要由控温仪、半导体致冷堆组件组成.
2. 高精度数字智能化恒温控制，温度控制范围：加热范围:环境温度--120℃;致冷范围:-10℃--15℃. 控温精度:0.1℃，恒温稳定度：±0.1℃.
3. 温度测量范围：-50-125℃，精度±0.1℃, 三位半数显.
4. 计时器：六位数码显示，自动调节测量范围，精度：0.1S.
5. 电流测量范围：0—2.400A,测量精度：1mA.
6.电压测量范围：0—24.000V, 测量精度：1mV.
7.直流电功测量范围：99999.9J，六位LED数码显示.
8.恒流源：0--1000uA .
9. 配PN结.
10. 配半导体热敏电阻.
1. 仪器主要由控温仪、半导体致冷堆组件组成.
2. 高精度数字智能化恒温控制，温度控制范围：加热范围:环境温度--120℃;致冷范围:-10℃--15℃. 控温精度:0.1℃，恒温稳定度：±0.1℃.
3. 温度测量范围：-50-125℃，精度±0.1℃, 三位半数显.
4. 计时器：六位数码显示，自动调节测量范围，精度：0.1S.
5. 电流测量范围：0—2.400A,测量精度：1mA.
6.电压测量范围：0—24.000V, 测量精度：1mV.
7.直流电功测量范围：99999.9J，六位LED数码显示.
8.恒流源：0--1000uA .
9. 配PN结.
10. 配半导体热敏电阻.
